產品描述
JIMA RT CT-01分辨率測試卡,于三維CT系統分辨率測試詳細介紹: JIMA(日本檢測儀器制造商協會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。 JIMA RT CT-01分辨率測試卡(于三維CT系統分辨率測試) 測試卡封裝在一個防護盒中 圖案布局:T型 線/空間尺寸:5種規格圖案, 3μm,4μm,5μm,6μm,7μm JIMA RT RC-04分辨率測試卡 測試卡封裝在一個防護盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm 芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm 圖案布局:T型 線/空間尺寸:32種規格圖案, 0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm, 0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm, JIMA RT RC-04分辨率測試卡 JIMA RT RC-02分辨率測試卡 測試卡封裝在一個防護盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm 芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm 圖案布局:L型 線/空間尺寸: 16種規格圖案, 0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm, 2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm JIMA RT RC-02分辨率測試卡 JIMA RT RC-05分辨率測試卡 測試卡封裝在一個防護盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm 芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm 圖案布局:T型 (3-10μm) I 型 (15-50μm) 線/空間尺寸:16種規格圖案, 3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型) 15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
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